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소자 검사 방법 및 이를 수행하는 소자 검사 장치

지식재산권구분 특허 출원/등록번호 PCT/KR2022/012371
출원/등록 출원 출원/등록일 20220818
국내/국제 국외
국가명 PCT
출원/등록기관 한국기계연구원 등
발명자명 장봉균,김재현,김현돈,임미경,권민우,김광섭,이학주
과제명 Micro-LED 기반 메타 디스플레이 기술 개발
연구기관 과학기술정보통신부
연구책임자 김재현
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